Measuring bidirectional reflectance distribution of low reflectivity surfaces in the near infrared

Bài báo khoa học đăng trên tạp chí trong danh mục SCI/SCIE/AHCI/SSCI (Q2)

Loại công bố: Bài báo khoa học đăng trên tạp chí trong danh mục SCI/SCIE/AHCI/SSCI (Q2)
Tên công bố: Measuring bidirectional reflectance distribution of low reflectivity surfaces in the near infrared
Nơi công bố: —
Tên tạp chí: SPIE Optical Engineering + Applications, 2019
Nhà xuất bản: —
Thời gian: 2019-09-11
Chỉ số tác động (IF): —
Tập (vol): —
Kỳ (issue): —
Trang: —
Tác giả liên hệ: Đoàn Công Luận
Tác giả thứ nhất: Đoàn Công Luận
Đồng tác giả: —
Danh sách tác giả: Đoàn Công Luận
Thuộc HĐ giáo sư: —
Đường dẫn: —
Tệp đính kèm: —